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抗靜電導電膜的性能

點擊次數:655    發布日期:2013-10-16   本文鏈接:http://www.miribilla.net/news/170.html

      由于以Kapton和F46柔性材料為基底的二次表面鏡在衛星上起著重要的熱控作用,所以對它們直接暴露在空間那一邊的高絕繳表面的改性,不僅要滿足防靜電積累的要求,還必須兼顧它們的光學性質,不能因表面改性而降低它們的熱控效果.因而對所制備的導電膜除了測其膜電阻外, 還進行了光透過率和發射率的測量. 膜電阻測量按部標QJ-2306“空間環境下材料表面電阻測試方法”規定的內容進行. 膜的透過率用P—E 紫外可見紅外分光光度計測量,發射率用美國AE發射計測量.

      考慮到Kapton等柔性二次表面鏡在制備有抗靜電膜后,在貯存、運輸、衛星總裝以及空間應用各階段都可能造成對導電膜性能的影響, 因此檢驗所制備的導電膜性能的穩定性也是極為必要的. 美國GE公司和Sheldahl公司在這方面進行了相當細致的工作還制定了試驗規范.參照他們的工作,甚至部分試驗還在更為苛刻的條件下完成了對新研制的導電膜的穩定性評估試驗.

      二種試樣的p對模擬太陽輻照的響應結果表明: 當模擬光強為1個太陽常數,經過3分鐘光輻照后,二者的P都減?。?nbsp;因為太陽光輻射的二個效應,短波光激發電子參與導帶導電及長波光熱效應產生升溫作用,導至了膜電導的增加.

      在對試樣進行的模擬亞暴環境電子輻照試驗中,實驗顯示以Kapton 為基底的TO膜,其電導不隨入射電子束流密度和能量而變. 這是因它的固有電導較大,電子載流子濃度較高,入射的電子密度不足以引起可觀測到的載流子濃度增大之故. 相反,以F46為基底的ITO膜在5keV束能的電子輻照下,困膜固有電導略小,此時入射電子數量對比膜原有載流子數量不可忽略,它們參與電導過程,使膜的電導能力提高了近半個量級.

      通過對三種導電膜系的各種評價試驗, 充分表明了利用平面磁控濺射方法在優選的工藝參數條件下,可以制備出性能優良的抗靜電導電膜. 而且電學性質和光學性質具佳.特別TO膜不須經高溫后處理即可達到與ITO、IO膜相同的性能,這一工藝研究結果對降低成本帶來了很大好處.

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